本申请涉及一种检测装置。该检测装置包括：匀光结构及光源组件。匀光结构包括透明基体及设置于透明基体的多个匀光单元。透明基体包括第一表面、与第一表面相对设置的第二表面及连接第一表面与第二表面的多个侧表面，光源组件位于透明基体的至少一个侧表面，多个匀光单元设置于第一表面，匀光单元用于将光源组件发出的光线反射后入射至待测物。上述检测装置，由于在透明基体上设置多个匀光单元，光源组件发出的光线经匀光单元反射后入射至待测物的表面，可以将光源组件发出的光线进行均匀化，使得光线可以均匀的照射在待测物的表面，还可以减少或消除光源组件带来的阴影，有利于提高检测装置的准确性。