本发明公开了一种高功率微波注入敏感度试验方法，它包括将天线与接收机之间的连接断开通过转接头将定向耦合器输入端接至天线，输出端接至接收机，前向功率输出端口和反向功率输出端口分别通过衰减器、检波器连接至示波器；将待试验电子产品天线置于高功率发射天线辐射场区域内，在电子设备前端放置已知天线增益的单极子天线，通过衰减器和检波器后用示波器进行场强监测，调整高功率源产生场强，对电子设备天线进行辐射；将待试验电子设备的天线置于辐射场的3dB波束范围内时，采用整体辐照的形式进行辐照；通过监测设备进行监测；解决了直接对电子设备接收机进行功率注入而无法考核天线对高功率微波信号耦合能力的现状等技术问题。