键合找平方法以及键合加工设备
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种键合找平方法和键合加工设备。这种键合找平方法通过在上基板和下基板之间设置检测传感器,可以分别测量检测传感器与上基板之间的参数和检测传感器与下基板之间的参数,通过分别在第一位置和第二位置进行上述测量,当两次测量得到的参数之间的差值小于等于预设值时,由于参数与距离相关,而两次测量过程中的其他值没有改变,从而表明上基板和下基板在第一位置和第二位置的距离符合距离要求,从而可以实现上基板和下基板在水平方向精准调平。这种键合找平方法可以在上基板和下基板之间的距离不符合要求时,提醒工程人员对基板做微调整,以实现精准对位,从而可以减小或避免基板翘曲导致的对位偏移,提升键合良率。

基本信息
专利标题 :
键合找平方法以及键合加工设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114420715A
申请号 :
CN202111537180.3
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2021-12-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
管云芳邱成峰
申请人 :
深圳市思坦科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区工业园路1号1栋凯豪达大厦十三层1309
代理机构 :
深圳中细软知识产权代理有限公司
代理人 :
徐春祺
优先权 :
CN202111537180.3
主分类号 :
H01L27/15
IPC分类号 :
H01L27/15  H01L21/67  H01L21/68  H01L33/62  
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 27/15
申请日 : 20211215
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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