一种快速统计接口缺陷率、估算开发质量的方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种快速统计接口缺陷率、估算开发质量的方法。本发明通过响应拦截器获取各接口的执行失败次数、执行总次数，并计算出缺陷率，将获得的数据保存到localstorage中，便于在系统提测时取得所有接口在大量执行下的缺陷率，从而得出各个接口的开发质量，满足软件开发过程中的开发质量评估需求，提高开发质量评估的真实性。
基本信息
专利标题 ：
一种快速统计接口缺陷率、估算开发质量的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114328195A
申请号 ：
CN202111538629.8
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈润
申请人 ：
深圳前海环融联易信息科技服务有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室（入驻深圳市前海商务秘书有限公司）
代理机构 ：
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 ：
冯建华
优先权 ：
CN202111538629.8
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20211215
申请日 : 20211215
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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