本发明属于光纤测试技术领域，公开了一种光纤几何参数测试方法及系统。本发明将待测光纤放置在直线单轴位移台上，通过调节直线单轴位移台使待测光纤的截面在相机中清晰成像得到光纤截面图像；基于光纤截面图像得到包层拟合信息和芯层拟合信息；对拟合信息进行畸变修正，得到修正后的包层拟合信息和修正后的芯层拟合信息；基于修正后的拟合信息得到光纤几何参数测试结果。相比于传统的光纤几何测试过程中必须将光纤移至视场正中心位置的操作，本发明无需此操作，而是通过畸变修正直接对光纤截面图进行处理以得到测试结果。本发明将三轴位移台简化为直线单轴位移台，能够降低成本、降低故障率、简化操作、提高测量速度。