一种多阵面天线的面精度调整方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及机械领域，特涉及一种天线多阵面的面精度调整方法。本发明以双经纬仪测量系统为辅助工具，通过对大阵面测量点进行测量及平面拟合后的分析，创造性地提出以主阵面测量点平面度拟合面为基准来看其他子阵面测量点的相对坐标，这样可对其他子阵面测量点进行定量分析得出其他阵面相对于主阵面理论偏移量，由此得出子阵面的调整量。
基本信息
专利标题 ：
一种多阵面天线的面精度调整方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114353709A
申请号 ：
CN202111543688.4
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2021-12-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
邹鹏飞龙文武李新陈根东
申请人 ：
武汉滨湖电子有限责任公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖高新技术开发区流芳大道51号
代理机构 ：
武汉帅丞知识产权代理有限公司
代理人 ：
朱必武
优先权 ：
CN202111543688.4
主分类号 ：
G01B21/00
IPC分类号 ：
G01B21/00 G01B21/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
法律状态
2022-05-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/00
申请日 : 20211216
申请日 : 20211216
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
