辐射温度测定装置
实质审查的生效
摘要
本发明的目的在于提供一种辐射温度测定装置，能够防止电磁波在测定对象物发生反射所引起的温度测定精度降低。辐射温度测定装置(100)具备：反射型偏振片(2)，其使从作为测定对象的物体辐射的电磁波中的一个方向的偏振波反射，并且使与一个方向垂直的方向的偏振波透过或将该偏振波吸收；以及红外线传感器(1)，其检测反射型偏振片(2)反射的一个方向的偏振电磁波。
基本信息
专利标题 ：
辐射温度测定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414058A
申请号 ：
CN202111549318.1
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2017-12-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
佐佐木裕之杉山大
申请人 ：
旭化成株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN202111549318.1
主分类号 ：
G01J5/08
IPC分类号 ：
G01J5/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
G01J5/08
光学特征
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/08
申请日 : 20171204
申请日 : 20171204
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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