一种多线宽线段绘制反走样处理方法
实质审查的生效
摘要
本发明提出一种多线宽线段绘制反走样处理方法，首先根据要绘制的线段起点及终点坐标，计算要绘制的线段斜率，判断斜率以及起点及终点坐标是否满足条件，若不满足则进行预处理；然后以线宽m为基准，计算起点(X0,Y0)及附近点的亮度系数；基于起点(X0,Y0)及附近点的亮度系数，通过循环迭代方式计算起点及终点之间各个点的亮度系数。本发明支持线宽的设定，可设置带小数的数值。计算过程没有求平方根等复杂运算，仅使用CPU或者单片机即可，不需要显示核心，减少了设备的体积功耗。
基本信息
专利标题 ：
一种多线宽线段绘制反走样处理方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114283222A
申请号 ：
CN202111557520.9
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-12-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
于黎明冯红斌王静静
申请人 ：
中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
申请人地址 ：
河南省洛阳市凯旋西路25号
代理机构 ：
西北工业大学专利中心
代理人 ：
陈星
优先权 ：
CN202111557520.9
主分类号 ：
G06T11/20
IPC分类号 ：
G06T11/20 G06T1/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T11/00
2D图像的生成
G06T11/20
根据基本元素绘图，例如：直线或圆
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 11/20
申请日 : 20211219
申请日 : 20211219
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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