一种基于相干扫描干涉系统的变焦显微表面重构方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种基于相干扫描干涉系统的变焦显微表面重构方法,包括如下步骤:1:获取表面扫描干涉三维信号;2:对三维信号进行三维傅立叶变换获取其三维频谱;3:从三维频谱中提取变焦显微成像信号频谱;4:对变焦显微成像信号频谱做三维傅立叶逆变换获取三维变焦显微图像;5:通过变焦显微表面重构算法获取表面形貌。本发明利用相干扫描干涉图中的干涉信号与变焦显微成像信号在三维频谱中的可分离性,获取相干扫描干涉成像中的三维变焦显微信号,最终通过变焦显微表面重构算法获取表面形貌,提高了相干扫描干涉仪对极粗糙表面、大倾角和垂直表面的形貌测量能力。
基本信息
专利标题 :
一种基于相干扫描干涉系统的变焦显微表面重构方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114440788A
申请号 :
CN202111559744.3
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-12-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
苏榕刘嘉宇张政任明俊刘世杰
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 :
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张宁展
优先权 :
CN202111559744.3
主分类号 :
G01B11/24
IPC分类号 :
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/24
申请日 : 20211220
申请日 : 20211220
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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