CMOS图像传感器电参数测试方法及测试装置
实质审查的生效
摘要

本公开一个或多个实施例提供一种CMOS图像传感器电参数测试方法及测试装置,其中,测试方法包括:将所述图像传感器与测试平台连接;通过所述测试平台上定义所述图像传感器的管脚参数、电平参数以及时序参数,并为所述参数赋值;建立串行模式的第一测试向量和待机模式的第二测试向量;建立测试流程,根据所述第一测试向量和所述第二测试向量对所述图像传感器的电参数进行测试。根据编写的测试向量可以给被测管脚施加合适的电平、电源电压以及负载电流,有效实现对CMOS图像传感器的测试,并且此测试方法通用性强,适于实用,填补了对此类器件电参数测试上的空白,提高了测试覆盖率。

基本信息
专利标题 :
CMOS图像传感器电参数测试方法及测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114513652A
申请号 :
CN202111574232.4
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张晓羽
申请人 :
航天科工防御技术研究试验中心
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号
代理机构 :
北京风雅颂专利代理有限公司
代理人 :
朱智勇
优先权 :
CN202111574232.4
主分类号 :
H04N17/00
IPC分类号 :
H04N17/00  H04N5/374  
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 17/00
申请日 : 20211221
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332