数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。所述方法包括获取探测器像素单元的三维坐标，根据探测器像素单元的三维坐标和射线发射装置的焦点坐标，计算余弦校正数据；确定探测器的待校正响应数据，使用余弦校正数据对待校正响应数据进行校正，得到目标数据；根据目标数据确定探测器像素单元对应的校正系数，根据校正系数对待检测对象的响应数据进行校正。采用本方法能够提高对探测器像素单元的响应不均匀性进行校正的效果。
基本信息
专利标题 ：
数据校正方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114469151A
申请号 ：
CN202111594782.2
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-12-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
徐探许文挺杨维
申请人 ：
武汉联影生命科学仪器有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉新能源研究院大楼G2-103室（自贸区武汉片区）
代理机构 ：
北京华进京联知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴迪
优先权 ：
CN202111594782.2
主分类号 ：
A61B6/03
IPC分类号 ：
A61B6/03 A61B6/00
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的
A61B6/02
依次在不同平面中诊断的仪器；立体放射诊断的
A61B6/03
用电子计算机处理的层析X射线摄影机
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 6/03
申请日 : 20211223
申请日 : 20211223
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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