三维摄影测量变形分析系统
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种三维摄影测量变形分析系统,包括:三维摄影模块,用于利用相机及软件对变形前及变形后的物体各角度进行拍摄,并数据采集并生成三维图像;对齐模块,将变形前的三维图像与变形后的三维图像对齐;校对模块,将物体变形前与变形后对三维图像进行比较并计算两三维图像对应点之间对最近距离,并确定每个最近距离区间,计算出变形分布;显示模块,将变形量通过图表形式进行直观反应并且将变形前和变形后的三维图像在显示屏上显示,在变形后的三维图像上用不同色彩标注变形的区间范围。该分析系统能够精确高效的对产品变形做出分析,且能直观的显示,更加便捷高效。
基本信息
专利标题 :
三维摄影测量变形分析系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114519767A
申请号 :
CN202111602969.2
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
任文涛范生宏陈坚
申请人 :
北京普达迪泰科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区学院路7号12层1201室北京普达迪泰科技有限公司
代理机构 :
苏州市港澄专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
汤婷
优先权 :
CN202111602969.2
主分类号 :
G06T17/00
IPC分类号 :
G06T17/00 G06T19/20 G06F3/04845 G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T17/00
用于计算机制图的3D建模
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 17/00
申请日 : 20211224
申请日 : 20211224
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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