地坪检测方法及储存介质及电子装置
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种地坪检测方法及储存介质及电子装置。该地坪检测方法包括:S10:将待检测地坪划分为多个既定测量范围;S20:在第一既定测量范围和第二既定测量范围的边界处设置第一靶标;S30:获取第一既定测量范围的第一点云数据;S40:获取第二既定测量范围的第二点云数据;S50:根据第一标记信息和第二标记信息将第一点云数据和第二点云数据拼接在一起。应用本发明的技术方案,在第一既定测量范围和第二既定测量范围的边界处设置第一靶标,可以将获取到的相邻的局部点云数据拼接在一起,从而得到待测量地坪的全面数据,从而实现对于待测量地坪的整体评估,提高地坪数据获得的准确性,同时也可以提高地坪检测效率。

基本信息
专利标题 :
地坪检测方法及储存介质及电子装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114322899A
申请号 :
CN202111619710.9
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵乔王堃周浩王杰胡伟
申请人 :
苏州方石科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市相城区高铁新城青龙港路286号长三角国际研发社区启动区11#102室
代理机构 :
北京云嘉湃富知识产权代理有限公司
代理人 :
程凌军
优先权 :
CN202111619710.9
主分类号 :
G01B21/20
IPC分类号 :
G01B21/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/20
用于计量轮廓或曲率,例如测定外形
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/20
申请日 : 20211227
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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