一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘
公开
摘要

本发明涉及数据存储领域,主要提供一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘,应用于固态硬盘。通过获取闪存介质的操作数据,并根据操作数据获取存储介质的错误计数信息,然后根据错误计数信息检测是否触发对存储介质的失效诊断,当确定对存储介质进行失效诊断时,从存储介质的若干闪存块中获取已经执行写操作的闪存块,并对已经执行了写操作的闪存块执行读操作,最后根据读操作的结果检查存储介质是否失效。本发明通过对已经执行过了写操作的闪存块进行诊断,实现了在不影响固态硬盘性能的条件下,对闪存介质中的存储介质进行失效诊断,从而避免了因检查存储介质失效不及时而导致的固态硬盘数据丢失和出现宕机,提高了固态硬盘的稳定性。

基本信息
专利标题 :
一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114300032A
申请号 :
CN202111626136.X
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曹学明杨颖
申请人 :
深圳大普微电子科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区腾飞路9号创投大厦3501室
代理机构 :
深圳市六加知识产权代理有限公司
代理人 :
江晓苏
优先权 :
CN202111626136.X
主分类号 :
G11C29/12
IPC分类号 :
G11C29/12  G06F11/30  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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