同轴激光测距装置
实质审查的生效
摘要
本申请实施例公开了一种同轴激光测距装置,同轴激光测距装置包括:激光器、聚焦透镜、带孔反射镜、第一接收透镜和探测器,激光器、聚焦透镜、带孔反射镜的孔部位以及第一接收透镜位于同一光轴上;其中,激光器,用于发射激光;聚焦透镜,用于对激光进行聚焦,以将激光通过带孔反射镜的孔部位聚焦到第一接收透镜;第一接收透镜,用于对激光进行准直处理,并将准直后的激光射向目标,以及接收由目标反射回来的回波激光,再将回波激光射向带孔反射镜除孔部位之外的区域;带孔反射镜,用于将接收到的回波激光发射给探测器;探测器,用于根据接收到的回波激光实现测距。采用本申请实施例实现低成本且高精度的同轴激光测距装置。
基本信息
专利标题 :
同轴激光测距装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114488169A
申请号 :
CN202111626733.2
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
崔金林刘肖琳于起峰张跃强
申请人 :
深圳大学
申请人地址 :
广东省深圳市南山区南海大道3688号
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
王勤
优先权 :
CN202111626733.2
主分类号 :
G01S17/08
IPC分类号 :
G01S17/08 G01S7/481
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 17/08
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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