一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置
公开
摘要
本发明公开了一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置,包括基座、设置在基座上的两个立柱和载物台,一个立柱上设置有线阵探测器单元,另一立柱上设置有射线源,两安装座均可上下滑动安装在所述立柱上;所述线阵探测器单元包括座板、滑板、线阵探测器、后准直器,线阵探测器和后准直器均固定安装在滑板上,后准直器上设置有射线准直通道,射线准直通道的宽度为探测器射线入射窗口宽度的N分之一,滑板可滑动安装在座板上,滑板每次的滑动距离为射线入射窗口宽度的N分之一。本发明利用后准直器缩小了探测器射线入射窗口接收射线的宽度,提高了辐射成像的分辨率,在现有技术难以减小探测器窗口宽度的情况下,为提高射线辐射成像系统的分辨率开创了一条新的技术路径。
基本信息
专利标题 :
一种基于射线辐射成像系统的无损检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295648A
申请号 :
CN202111627866.1
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李建
申请人 :
华清核测科技(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市西环路1788号
代理机构 :
北京中创阳光知识产权代理有限责任公司
代理人 :
尹振启
优先权 :
CN202111627866.1
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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