采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质，该方法包括以下步骤：响应于设置指令，在当前温度位于预设的第一温度范围内的情况下，每间隔预设的第一温度，对每一个ADC通道进行采样处理，以得到每一个ADC通道的多个采样参数，采样参数包括第一功率参数和第一温度参数；根据每一个ADC通道的所有采样参数，拟合得到每一个ADC通道的拟合函数，并将所有拟合函数保存至存储单元；响应于诊断指令，利用拟合函数，对每一个ADC通道进行诊断处理，以确定ADC通道是否异常。本发明公开的采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质，能够及时发现异常，并且能够诊断得更准确，并降低诊断成本，有利于提高可靠性。
基本信息
专利标题 ：
采样通道异常诊断方法、装置、设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114421962A
申请号 ：
CN202111628944.X
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
包晓军刘远曦李琳刘航徐挚仁韦小军
申请人 ：
广东纳睿雷达科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市唐家湾镇港乐路2号
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈慧华
优先权 ：
CN202111628944.X
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03M 1/10
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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