一种ATE测试通道的自诊断方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种ATE测试通道的自诊断方法，包括如下步骤：S01：将测试通道排序后分为奇数测试通道和偶数测试通道，配置奇数测试通道和偶数测试通道的输入高电平电压VIH、输入低电平电压VIL、输出高电平电压VOH和输出低电平电压VOL不同；S02：奇数测试通道和偶数测试通道的发送端同时发送相同的数据信号，且各个测试通道的接收端接收其发送端所发送的数据信号，根据接收的数据信号判断对应测试通道是否正常。本申请无需诊断单板作为接受端，可以快速诊断测试通道的基础信号收发功能，可以有效检测相邻测试通道的短路、断路情况。
基本信息
专利标题 ：
一种ATE测试通道的自诊断方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114527422A
申请号 ：
CN202210157357.5
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2022-02-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何冬晓
申请人 ：
上海御渡半导体科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区泥城镇新元南路600号1幢1夹层
代理机构 ：
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
徐琳
优先权 ：
CN202210157357.5
主分类号 ：
G01R35/02
IPC分类号 ：
G01R35/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
G01R35/02
辅助装置的测试或校准，例如根据规定的变换比、相位角或额定瓦数对仪表变压器进行测试或校准
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/02
申请日 : 20220221
申请日 : 20220221
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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