测试方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明涉及计算机科学领域,具体涉及测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:接收测试指令,测试指令包括测试标识;根据测试标识,获取测试标识对应的测试用例;对测试用例进行测试,生成测试结果。上述方法,由于可以根据测试标识获取到测试标识对应的的测试用例,从而不需要人工手动介入制造假数据进行调测,因此节省了大量的人力、财力和物力以及时间成本,且节省资源,提高了对分布式系统进行测试的效率。此外,整个测试方法较为完整地融合了存储系统中测试模型的测试流程开发及测试要求,提供一个完整的测试对接系统,便于开发各模块之间的协同并发工作,提高开发效率,也有利于测试工作的推进。

基本信息
专利标题 :
测试方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114328231A
申请号 :
CN202111638924.0
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
段萌
申请人 :
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 :
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 :
林韵英
优先权 :
CN202111638924.0
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20211229
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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