测试方法及装置、电子设备和存储介质
公开
摘要
本公开涉及一种测试方法及装置、电子设备和存储介质,所述方法包括:获取待测设备的支付应用的操作界面;获取与操作界面对应的测试指令,并发送至所述待测设备;获取待测设备对于测试指令的执行结果;根据执行结果,确定支付应用的测试结果。根据本公开的实施例的测试方法,可将待测设备的支付应用的操作界面传输至测试设备,并由测试设备根据操作界面对支付应用进行测试,可减少测试过程中对支付应用的功能的遗漏和重复,且能够通过测试设备对支付应用进行长期测试,以测试支付应用的性能和稳定性。
基本信息
专利标题 :
测试方法及装置、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114579439A
申请号 :
CN202210186570.9
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郭秦川胡明伟张帅伊帅
申请人 :
成都商汤科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市自由贸易试验区天府新区湖畔路北段366号1栋3楼1号
代理机构 :
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘新宇
优先权 :
CN202210186570.9
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36 G06Q20/40 G06V40/16 G06V40/40 G06V10/74 G06V10/82 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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