芯片测试方法、装置、设备及存储介质
公开
摘要
本公开提供一种芯片测试方法、装置、设备及存储介质，测试方法包括：确定寄存器测试适配文件，根据预设测试环境下的寄存器描述文件确定寄存器测试适配文件，寄存器测试适配文件与预先确定的测试用例模板形式相适配；根据寄存器测试适配文件和测试用例模板构建测试用例，并执行测试用例，以对芯片进行测试；确定寄存器测试适配文件还包括，在预设测试环境发生变更时，响应于变更，确定寄存器描述文件的变更信息；根据变更信息，变更寄存器测试适配文件，无需进行繁琐的寄存器信息查找、录入工作，提高了芯片测试效率，降低出错率，提高测试准确性，并能够响应于预设测试环境发生变更，适应性地变更寄存器测试适配文件，无需重新构建测试环境。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624575A
申请号 ：
CN202210195949.6
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
古城
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 ：
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 ：
苗源
优先权 ：
CN202210195949.6
主分类号 ：
G01R31/3183
IPC分类号 ：
G01R31/3183
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/3183
••••测试输入量的产生，例如测量矢量、图形或顺序
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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