FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质
授权
摘要

本申请实施例适用于芯片测试技术领域,提供一种FPGA芯片测试方法、装置、系统及计算机可读存储介质。方法包括:根据测试项目向配置芯片发送配置数据,以使配置芯片将配置数据烧入被测FPGA芯片,配置芯片设置在自动测试设备上;向自动测试设备发送测试激励数据,接收来自自动测试设备的测试响应结果。本申请通过设置在自动测试设备上的配置芯片,根据测试项目将配置数据发送到被测FPGA芯片,克服了现有自动测试设备不具备芯片配置功能的问题,无需制作FPGA芯片测试板,可随时通过测试软件向被测FPGA芯片发送配置信息,无需反复上下电插拔测试板,为FPGA芯片测试节省大量配置时间,提升测试效率。

基本信息
专利标题 :
FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113376514A
申请号 :
CN202110644106.5
公开(公告)日 :
2021-09-10
申请日 :
2021-06-09
授权号 :
CN113376514B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
张家华刘伟刘乐魏寅曾岩赵海洋孔晓琳李安平
申请人 :
深圳米飞泰克科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
龙欢
优先权 :
CN202110644106.5
主分类号 :
G01R31/3185
IPC分类号 :
G01R31/3185  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
G01R31/08
探测电缆、传输线或网络中的故障
G01R31/14
所用的电路
G01R31/315
使用电感法
G01R31/3185
测试的重新配置,例如LSSD,划分
法律状态
2022-04-15 :
授权
2022-03-01 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01R 31/3185
变更事项 : 申请人
变更前 : 深圳米飞泰克科技有限公司
变更后 : 深圳米飞泰克科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层
变更后 : 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道清风大道28号安博科技厂区1号厂房1、5、6层
2021-09-28 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/3185
申请日 : 20210609
2021-09-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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