本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种闪存芯片的测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质，其中，测试方法包括以下步骤：获取完整测试命令信息；拆解所述完整测试命令信息生成操作信息和地址信息；根据所述操作信息调节多个待测试闪存芯片的写使能状态和/或QPI使能状态；分别发送所述操作信息和所述地址信息给对应的待测试闪存芯片以对所述对应的待测试闪存芯片进行测试，并获取对应的测试结果；该测试方法能同时利用相同的操作信息和地址信息对多个待测闪存芯片进行测试，实现了闪存芯片的批量同步测试，完成芯片流向市场之前的质量检测和评估，有效提升了闪存芯片的测试效率。