本申请提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片测试领域，该方法包括；接收测试数据并将所述测试数据存储至存储区域；接收测试信号，从所述存储区域中获取所述测试数据；基于所述测试数据对寄存器进行逻辑操作，得到寄存器信息，所述寄存器信息表征寄存器地址与待测试芯片管脚的对应关系；根据所述寄存器信息确定所述待测试芯片输出与所述测试数据对应的测试波形的管脚，生成所述待测试芯片的输出波形索引并将所述输出波形索引发送至所述待测试芯片；接收由所述待测试芯片基于所述输出波形索引输出的所述测试波形，以检测所述待测试芯片的性能。采用本申请实施例中提供的芯片测试方法能够提高对存储芯片的检测效率。