本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种大容量闪存芯片测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，测试方法包括以下步骤：获取全片测试命令；根据闪存芯片中的灵敏放大器的数量及位置信息将闪存芯片的存储阵列划分为多个独立测试区域；根据全片测试命令生成分别对应于每个独立测试区域的独立测试命令；分别根据独立测试命令对对应的独立测试区域进行独立测试；获取所有独立测试的独立测试结果，并根据所有独立测试结果生成闪存芯片的测试结果；该测试方法对应生成独立测试命令以使不同独立测试区域能进行独立测试，从而使得闪存芯片中不同独立测试区域的测试时间能相互重合或交错，减少了整个测试过程耗费的时间，提高测试效率。