本实用新型公开了一种多功能闪存芯片测试架，包括主测试板和辅助测试板，主测试板的一侧活动连接有辅助测试板；在使用辅助板体时可以将其从放置槽中利用铰接件转出，在不使用或存放测试架时，亦可将辅助板体利用铰接件转入放置槽的内腔中。该测试架在主板体的表面开设有若干第一插槽，第一插槽的内腔中还插接有主测试座，每个主测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，且每个辅助测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片，使得在对闪存芯片进行测试时，可以将多个闪存芯片分别放置在主测试座和辅助测试座内，且分别接通USB接口和电源接口，同时对多个闪存芯片进行测试，与传统的单闪存芯片测试方法相比，测试效率也更高。