一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统
授权
摘要

本发明涉及一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统,该方法包括将测试芯片与测试系统连接,以块为单位选择该测试芯片所要测试的块,并根据闪存芯片的封装不同,选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息,并将测试数据实时保存;利用寿命预测算法,根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命;对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据;根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据,单独或者组合判断筛选闪存芯片,对闪存芯片进行分类。通过本发明,针对不同类型的闪存芯片,采用相应测试图形(pattern)进行测试,实现对不同封装、不同型号的闪存芯片的测试;且通过对闪存芯片存储块进行分级,根据存储块的分级实现对闪存芯片的分级,获得更准确,更贴合实际数据的闪存芯片分类方法。

基本信息
专利标题 :
一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108682442A
申请号 :
CN201810503034.0
公开(公告)日 :
2018-10-19
申请日 :
2018-05-23
授权号 :
CN108682442B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
刘政林王志强李四林
申请人 :
武汉忆数存储技术有限公司;华中科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区关山一路1号华中曙光软件园蓝域·商界2号楼3层304-5
代理机构 :
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
廉海涛
优先权 :
CN201810503034.0
主分类号 :
G11C29/56
IPC分类号 :
G11C29/56  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置,例如:用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置,例如,自动测试设备;所用接口
法律状态
2022-04-05 :
授权
2021-08-06 :
专利申请权、专利权的转移
专利申请权的转移IPC(主分类) : G11C 29/56
登记生效日 : 20210723
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 武汉忆数存储技术有限公司
变更后权利人 : 置富科技(深圳)股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区关山一路1号华中曙光软件园蓝域·商界2号楼3层304-5
变更后权利人 : 518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道吉华路龙璧工业城13#2层
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 华中科技大学
2018-11-13 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20180523
2018-10-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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