NAND闪存测试治具
授权
摘要
本实用新型提供一种NAND闪存测试治具，包括：线路板、通讯接口、至少一TSOP48端子板和对应个数的M Key连接器，所述TSOP48端子板、所述M Key连接器和与每一M Key连接器连接的所述通讯接口均设置在线路板上，每一TSOP48端子板包括一读/写功能扩展定义引脚和至少一片选功能扩展定义引脚并连接到对应的M Key连接器；各TSOP48端子板分别用于可插拔地连接待测试NAND闪存芯片；各M Key连接器分别用于可拆卸地连接与待测试NAND闪存芯片对应的主控板。根据本实用新型的技术方案，将该测试治具作为母板，并仅通过更换不同方案的主控板子板就可以实现对不同方案商的NAND闪存的筛选测试量产，可以减少治具的重复投入，大大降低了投入成本，实用性强。
基本信息
专利标题 ：
NAND闪存测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920720476.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-17
授权号 ：
CN209591535U
授权日 ：
2019-11-05
发明人 ：
张咪
申请人 ：
深圳文治电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福永镇和平村荔园路盛和兴生活区D3栋110-111
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
徐丽
优先权 ：
CN201920720476.0
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2019-11-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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