一种用于闪存芯片的测试电路及其装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于闪存芯片的测试电路及其装置，所述测试电路包括主芯片、烧录电路和芯片接口电路；所述烧录电路与所述主芯片电连接，所述烧录电路用于接收来自外部的烧录程序数据，并且将所述烧录程序数据经由所述主芯片传送至所述芯片接口电路；所述芯片接口电路与所述主芯片电连接，所述芯片接口电路用于对接不同的闪存芯片，并且根据所述烧录程序数据对所述闪存芯片进行不同的测试。本实用新型所述测试电路及其装置能够满足用户的不同需求而允许用户修改测试程序的测试代码，以适用于闪存芯片的终端测试，也适用于验证闪存芯片的性能测试。
基本信息
专利标题 ：
一种用于闪存芯片的测试电路及其装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123153326.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
CN216596962U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
马力张鲜芳
申请人 ：
澜智集成电路（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市张家港市张家港经济技术开发区（市高新技术创业服务中心）A幢301-305、321-323室
代理机构 ：
上海翼胜专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
翟羽
优先权 ：
CN202123153326.2
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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