芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质
授权
摘要
本发明实施例公开了一种芯片的测试向量生成方法、装置、设备及存储介质。其中，方法包括：实时获取测试用例运行于待测芯片的过程中生成的关联操作信息；根据关联操作信息生成待测芯片的目标测试向量。本发明实施例可以优化芯片的测试向量生成的灵活性，提升测试向量的生成效率和测试覆盖范围。
基本信息
专利标题 ：
芯片的测试向量生成方法、系统、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113849419A
申请号 ：
CN202111455056.2
公开（公告）日 ：
2021-12-28
申请日 ：
2021-12-02
授权号 ：
CN113849419B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
朱康宁张文平曹顺
申请人 ：
上海燧原科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区业盛路188号A-522室
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
杨雪
优先权 ：
CN202111455056.2
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2022-01-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20211202
申请日 : 20211202
2021-12-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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