用于MCU芯片测试的硬件控制装置、方法、存储介质及设备
公开
摘要
本申请公开了一种用于MCU芯片测试的硬件控制装置、方法、存储介质及设备，属于硬测试件技术领域。该方法主要包括：测试控制端与端口复用硬件模块，其中，测试控制端与端口复用硬件模块连接，并根据需测试的功能发送相应的测试操作指令以控制端口复用硬件模块中相应通讯接口的开闭，端口复用硬件模块与被测MCU芯片连接，通过通讯接口对被测MCU芯片进行相应的功能测试。通过采用多路复用的原理，利用端口复用硬件模块对被测芯片进行连接，使得能够通过端口复用硬件模块对被测芯片任意通讯端口进行有效访问，并且不产生冲突，能够完全的满足全测试需求，且本方案具备更高的灵活性，无需反复的人工接线，即可实现硬件的全功能测试。
基本信息
专利标题 ：
用于MCU芯片测试的硬件控制装置、方法、存储介质及设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114297011A
申请号 ：
CN202111662008.0
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙林朱勇韩标蒋京宏
申请人 ：
百瑞互联集成电路（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
代理机构 ：
北京国科程知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
曹晓斐
优先权 ：
CN202111662008.0
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
