PFC硬件电路的测试方法、装置及介质
公开
摘要
本公开涉及一种PFC硬件电路的测试方法、装置及介质,所述方法包括:响应于接收到的测试指令,确定测试进程,所述测试进程至少用于对PFC硬件电路包括的电流采样电路的输出电压、和/或对所述PFC硬件电路包括的退磁保护电路的退磁保护值进行验证;执行所述测试进程,得到测试结果,所述测试结果用于反映所述PFC硬件电路是否存在与硬件相关的问题。通过本公开的PFC硬件电路的测试方法可以实现PFC硬件电路准确性的自动测试,提高测试效率。
基本信息
专利标题 :
PFC硬件电路的测试方法、装置及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114563688A
申请号 :
CN202210188274.2
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
单联瑜
申请人 :
北京小米移动软件有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区西二旗中路33号院6号楼8层018号
代理机构 :
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王晓霞
优先权 :
CN202210188274.2
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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