电路的测试方法、装置、设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本公开提供一种电路的测试方法、装置、设备及存储介质。所述电路的测试方法包括:确定待测电路中预设电路模块以及预设电路模块中的预设节点;按照预设输入规则,向待测电路的输入端输入测试信号,获取预设电路模块中预设节点的信号;根据所获取的预设节点的信号,确定预设电路模块的状态。本公开示例性的实施例提供的电路的测试方法以预设电路模块作为测试对象,基于其预设节点的信号确定该预设电路模块的状态,可以基于电路对应的功能模块进行测试,无论是在电路设计的初期,中后期都可以对电路进行测试,而不局限于电路设计完成后的测试,以能及时发现电路设计中的缺陷,冲突。

基本信息
专利标题 :
电路的测试方法、装置、设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114355167A
申请号 :
CN202210025329.8
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
古城
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 :
李冬梅
优先权 :
CN202210025329.8
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220111
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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