覆盖率融合方法、装置、计算机设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请实施例公开了一种覆盖率融合方法、装置、计算机设备及存储介质。方法包括:基于待验芯片的目标验证计划,生成待验芯片中各模块的测试用例,测试用例包括低功耗测试用例以及非低功耗测试用例;根据各测试用例进行测试仿真处理,得到多个测试数据;将多个测试数据输入验证平台,得到各模块的覆盖率报告,覆盖率报告存储在不同路径,覆盖率报告包括低功耗覆盖率报告以及非低功耗覆盖率报告;通过预设的融合工具对各模块的覆盖率报告进行融合处理,得到目标覆盖率报告。本申请实施例本方案可以通过融合工具将低功耗测覆盖率报告以及非低功耗测覆盖率报告融合到一起,得到的目标覆盖率报告可以反应完整的全芯片覆盖率情况。
基本信息
专利标题 :
覆盖率融合方法、装置、计算机设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114356683A
申请号 :
CN202111643969.7
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
索健王正
申请人 :
北京爱芯科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区中关村大街1号16层1605
代理机构 :
北京太合九思知识产权代理有限公司
代理人 :
刘戈
优先权 :
CN202111643969.7
主分类号 :
G06F11/26
IPC分类号 :
G06F11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
G06F11/26
功能检验
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/26
申请日 : 20211229
申请日 : 20211229
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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