本申请涉及一种测试装置、方法、计算机设备、存储介质和程序产品。该测试装置包括测试主板和短路板。其中，测试主板与待测转接卡连接，待测转接卡与短路板连接。测试主板向待测转接卡输出测试信号，以使测试信号经过待测转接卡到达短路板；短路板根据待测转接卡的输出信号输出回流信号，以使回流信号经过待测转接卡后到达测试主板；测试主板根据短路板输出的回流信号进行信号分析，得到待测转接卡的性能测试结果。在本方案中，通过测试装置中的短路板形成信号回路，测试装置中的测试主板可以根据回流信号定位待测转接卡的通路是否存在问题，通过短路板可以实现多个待测转接卡的同步测试，降低对服务器主板slot槽的损耗，延长服务器主板的寿命。