一种基于控制点的斜视SAR图像单点目标分析方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种基于控制点的斜视SAR图像单点目标分析方法与系统，所述方法包括：对斜视SAR图像中的单点目标进行二维升采样成像，获得升采样的成像结果图；在所述升采样的成像结果图中选取图像质量分析控制点；利用所述控制点提取点目标的距离向剖面与方位向剖面；根据所述距离向剖面与方位向剖面，确定距离向图像质量参数与方位向图像质量参数。本发明相比于常规方法仅利用峰值点无法有效提取出斜视SAR点目标距离向剖面和方位向剖面，所述方法通过设置幅度比较窗选取图像质量分析控制点，并对控制点进行线性拟合，能够有效地提取出斜视SAR图像中的距离向和方位向剖面，从而进行斜视SAR成像质量分析。
基本信息
专利标题 ：
一种基于控制点的斜视SAR图像单点目标分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114415177A
申请号 ：
CN202111648292.6
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄增树向巍杨小婷
申请人 ：
北京遥感设备研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区永定路51号
代理机构 ：
中国航天科工集团公司专利中心
代理人 ：
栾磊
优先权 ：
CN202111648292.6
主分类号 ：
G01S13/90
IPC分类号 ：
G01S13/90
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S13/00
使用无线电波的反射或再辐射的系统，例如雷达系统；利用波的性质或波长是无关的或未指明的波的反射或再辐射的类似系统
G01S13/89
用于绘地图或成像
G01S13/90
使用合成孔径技术
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 13/90
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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