一种正电子发射断层成像方法和系统
实质审查的生效
摘要

一种正电子发射断层成像方法,可以包括获取对象的原始成像数据,所述原始数据包括原始飞行时间(TOF)信息。该方法还可以包括将所述原始成像数据分为至少两个数据集。该方法还可以包括基于所述至少两个数据集确定至少两个运动矢量场。该方法还可以包括对至少一个所述数据集执行运动校正,生成校正成像数据,所述运动校正基于所述原始飞行时间信息和至少一个对应的运动矢量场。该方法还可以包括基于所述校正成像数据执行图像重建生成所述对象的一个或以上目标图像。

基本信息
专利标题 :
一种正电子发射断层成像方法和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114343692A
申请号 :
CN202111653396.6
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
冯涛吕杨刘浩阳刚
申请人 :
上海联影医疗科技股份有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区城北路2258号
代理机构 :
成都七星天知识产权代理有限公司
代理人 :
杨永梅
优先权 :
CN202111653396.6
主分类号 :
A61B6/03
IPC分类号 :
A61B6/03  A61B6/00  G06T11/00  
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学;卫生学
A61B
诊断;外科;鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器,如与放射治疗设备相结合的
A61B6/02
依次在不同平面中诊断的仪器;立体放射诊断的
A61B6/03
用电子计算机处理的层析X射线摄影机
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 6/03
申请日 : 20211230
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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