本发明提供了一种元器件引脚成形参数的验证的方法和装置，该方法包括以下步骤：S101：对所述元器件进行测量，获得第一测量数据S102：根据所述第一测量数据计算第一参数，判断所述第一参数是否满足第一预设要求；S103：接收所述元器件的工艺参数，根据所述第一测量数据和所述元器件的工艺参数计算第二参数和第三参数，判断所述第二参数和第三参数是否满足第二预设要求；S104：根据当前所述元器件的工艺参数计算成形设备调整参数；S105：根据所述成形设备调整参数对成形设备的相应参数进行调整。这样，在元器件引脚成形前，通过测量数据和输入的工艺参数指标对元器件设计的合理性进行预先验算，可以有效降低引脚成形后元器件不合格的情况发生。