一种高效率规范化的SOC系统级验证方法及装置
实质审查的生效
摘要
一种高效率规范化的SOC系统级验证方法及装置，涉及集成电路验证测试领域。在对SOC芯片仿真时，通过用户操作平台发送测试指令给系统验证平台；系统验证平台根据收到的测试指令配置相应的硬件运行环境；系统验证平台根据收到的测试指令将预先编译好并存储在测试激励存储模块中的软件激励加载到SOC芯片的存储器中；在对应的硬件环境下SOC芯片运行软件激励；仿真结束后，生成仿真报告、覆盖率报告以及仿真波形文件。本发明节约了硬件代码的编译时间和SOC芯片重复上电初始化的运行时间，大大提高了SOC芯片仿真验证的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种高效率规范化的SOC系统级验证方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325333A
申请号 ：
CN202111657303.7
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
崔嗣培袁国顺孔德伟
申请人 ：
江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号无锡软件园天鹅座C座18楼
代理机构 ：
无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭慧
优先权 ：
CN202111657303.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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