本公开的实施例提供了标准单元放通率测试分类方法、装置、设备、计算机程序产品和可读存储介质。本公开的实施例所提供的方法包括获取布局规划图，所述布局规划图包括多个预先布置的布局块；获取待测试标准单元列表，所述待测试标准单元列表中包括多个待测试标准单元；对于所述待测试标准单元列表中的每个所述待测试标准单元，确定其在所述布局规划图中的放通率；以及根据所确定的每个所述待测试标准单元的放通率，对所述多个待测试标准单元进行分类，从而快速筛选出与芯片布局设计最匹配的标准单元，便于对匹配性差的标准单元进行优化，提升布局空间利用率。