一次开启式上电检测电路
实质审查的生效
摘要

本发明属于集成电路技术领域,具体涉及一种上电检测电路。一种一次开启式上电检测电路,包括一电压检测电路,具有供电电源端和上电复位信号端;电压检测电路还包括:一比较器,同相输入端经第一电阻连接供电电源端,反向输入端连接检测点电压端,输出端为上电复位信号端,控制端连接上电初始化信号端;一第一MOSFET管,栅极连接上电初始化信号端,漏极经第二电阻连接第一电阻,源极接地。本发明可以在芯片初始化工作完成后,将电压检测电路进入低功耗模式,避免了电压检测电路的静态功耗。

基本信息
专利标题 :
一次开启式上电检测电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114461463A
申请号 :
CN202111666691.5
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
胡容铭索鑫马松宋霜
申请人 :
上海聚栋半导体有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区海港大道1539号创晶科技中心(创新晶体)T3幢326室
代理机构 :
上海十蕙一兰知识产权代理有限公司
代理人 :
于露萍
优先权 :
CN202111666691.5
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22  G11C5/14  G11C7/20  G11C29/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20211231
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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