检测方法及装置、电子设备和存储介质
公开
摘要

本申请实施方式的检测方法包括根据待测件的分割区域中,任一待测区域的翘曲程度,调整待测件和传感器的相对角度,以使得待测区域垂直于传感器的光轴,待测件包括多个分割区域,分割区域包括多个待测区域;通过传感器采集分割区域中每个待测区域的采集图像;拼接多个待测区域的采集图像,以生成分割图像;及拼接多个分割图像以生成待测件的检测图像。检测方法及装置、电子设备和非易失性计算机可读存储介质,通过划分分割区域,根据分割区域任一待测区域的翘曲程度调整待测件和传感器的相对角度,采集图像的质量较高,调整次数较少,提高了采集图像的拼接准确性,且先拼接采集图像,再拼接分割图像,拼接误差的累积量和处理量较小。

基本信息
专利标题 :
检测方法及装置、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114299049A
申请号 :
CN202111667201.3
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈鲁耿亚鹏陈驰赵燕张嵩
申请人 :
深圳中科飞测科技股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄德海
优先权 :
CN202111667201.3
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T3/40  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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