一种AOI压痕检测系统及方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种AOI压痕检测系统及方法,包括:壳体、分光调节按钮、偏振调节按钮、TDI相机以及DIC棱镜;DIC棱镜包括第一棱镜以及第二棱镜;TDI相机以及DIC棱镜间隔设置在壳体内;分光调节按钮与DIC棱镜连接,用于调节DIC棱镜与TDI相机之间的间距;偏振调节按钮与第一棱镜、第二棱镜之中的至少一个连接,用于调节第一棱镜和第二棱镜之间的间距。现有压痕检测技术,主要存在体积大、成本高、效率低、成像不清晰、无法灵活调节等缺陷,而本发明可实现灵活调节,利用棱镜厚度微小的变化引起光程差的微小变化,产生更优的干涉效果,进而实现更好的用户观测体验,有助于进行更加高精度的定量分析。

基本信息
专利标题 :
一种AOI压痕检测系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324360A
申请号 :
CN202111667728.6
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
喻泷
申请人 :
深圳鼎晶科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽街道阳光社区松白路1008号企航科创研发产业园F栋101
代理机构 :
深圳智汇远见知识产权代理有限公司
代理人 :
黄巍
优先权 :
CN202111667728.6
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20211231
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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