本发明公开一种测试装置，包括箱体、设于箱体上侧的导电组件和测试用电路板、托盘、直线导向机构及下压组件，托盘设于箱体上，用于放置被测集成电路；导电组件设于托盘的下侧，用于将被测集成电路与测试用电路板电性连接；下压组件包括安装板、压块及下压件，安装板通过直线导向机构安装在箱体上，使下压组件可以沿直线导向机构在打开取放位置和闭合测试位置之间来回平移，压块可上下浮动地安装在安装板的下侧，通过旋转下压件可以在闭合测试位置下压压块使压块压紧被测集成电路或者松开压块使压块回复到初始位置。本发明能够提高测试效率和准确率，并使得测试操作更加方便。