本发明实施例公开了一种闪存芯片参考电路的微调方法、装置、设备及存储介质，方案包括：获取闪存芯片的微调挡位历史数据的概率分布信息；设定微调挡位值的第一区间范围，按预定步长将第一区间范围内的微调挡位值离散化，得到第一数量的微调挡位值；基于概率分布信息中的概率值的大小顺序，对此第一数量的微调挡位值中的所有微调挡位值进行排序，得到与此第一数量的数值一致的第二数量的微调挡位值；对于待测试闪存芯片，按序从此第二数量的微调挡位值中选择待设置微调挡位值，基于待设置微调挡位值对待测试闪存芯片进行测试，当测试得到的测量值与预先设定的目标值的差值绝对值小于预定阈值时，将此待设置微调挡位值设定为第一目标微调挡位值。