散热结构和检查设备
实质审查的生效
摘要
本公开提供一种散热结构，包括：支撑框架，用于绕其中心轴线旋转；发热源，布置在支撑框架上；以及散热器，其中散热器配置成从发热源接收被发热源加热的流体，并将冷却后的流体输入到所述发热源；其中散热器布置在支撑框架上相对于中心轴线的外周上，并且在所述支撑框架绕其中心轴线旋转时所述散热器允许空气从其进气开口进入，从出气开口排出。还提供检查设备。
基本信息
专利标题 ：
散热结构和检查设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114324424A
申请号 ：
CN202111681959.2
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄清萍洪明志王子楠张立国侯洪滨
申请人 ：
同方威视技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
胡良均
优先权 ：
CN202111681959.2
主分类号 ：
G01N23/046
IPC分类号 ：
G01N23/046 G01V5/00 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术，如计算机X光断层技术
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/046
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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