一种半导体视觉检测用工作台
授权
摘要

本实用新型提供一种半导体视觉检测用工作台,包括底座与升降座,所述底座四角竖直设置有固定的滑套,在所述滑套内均滑动安装有导杆,所述导杆顶部与所述升降座底端四角固接;所述底座两侧设置有安装座,两所述安装座上部之间连接有螺杆,其下端连接有设置在底座上的导轨;一所述安装座一侧设置有驱动电机,所述驱动电机输出轴连接所述螺杆;所述导轨上滑动安装有滑动座;所述螺杆上螺纹配合安装有移动套;所述滑动座与所述移动套固定连接;所述移动套上端固接有挤压块,所述挤压块上端面倾斜设置;所述升降座下端设置有受压块,所述挤压块上端斜面抵靠于所述受压块下端斜面上。本实用新型结构简单、设计合理,方便对物品进行有效的检测。

基本信息
专利标题 :
一种半导体视觉检测用工作台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202121704920.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-07-26
授权号 :
CN216484691U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
刘雪连
申请人 :
无锡爱科畔诗智能科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市梁溪区金山北科技产业园C区1-8-539
代理机构 :
连云港联创专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张传宏
优先权 :
CN202121704920.3
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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