一种半导体器件缺陷视觉检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体器件缺陷视觉检测装置，包括通过传送带依次连接的上料装置、检测装置、标记装置和下料装置，所述检测装置包括视觉检测组件一、视觉检测组件二和视觉检测组件三，所述视觉检测组件一包括相机一、镜头一和光源一，所述视觉检测组件二包括相机二、镜头二和光源二，所述视觉检测组件三包括相机三、镜头三和光源三，所述视觉检测组件一、视觉检测组件二均设置在传送带上方，所述视觉检测组件三设置在传送带下方。本实用新型的通过检测装置对半导体器件进行检测，标记装置根据检测结果对半导体器件进行标记处理再由良品下料架和不良品分料台进行分料处理，自动化程度高、检测精度高。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体器件缺陷视觉检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922193450.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-10
授权号 ：
CN211613464U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
徐宝林陈维龙
申请人 ：
无锡维胜威信息科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号无锡软件园三期鲸鱼座C603
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922193450.8
主分类号 ：
B07C5/00
IPC分类号 ：
B07C5/00 B07C5/02 B07C5/36
相关图片
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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