一种主板缺陷视觉检测装置
授权
摘要

为了解决降低产品中电子芯片质量不佳的问题,本实用新型提出一种主板缺陷视觉检测装置,包括:图像采集装置、图像处理装置、剔除装置、控制器、报警器,将待测电子芯片置于传送带上,传送至图像采集装置进行拍照图像采集,图像处理器读取图像采集片中的待测电子芯片图像,并将待测电子芯片图像与标准待测电子芯片图像模型作比对,以判断电子芯片是否合格,若电子芯片不合格,图像处理器将不合格待测电子芯片的电子芯片图像标红后显示在显示器上,并通过控制器控制报警器报警,控制器控制剔除装置实现对不合格电子芯片的剔除,能够较好地对通过的电子芯片的缺陷进行检测,结构简单,自动化程度高。

基本信息
专利标题 :
一种主板缺陷视觉检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123114805.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-13
授权号 :
CN216747455U
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
鲍建荣
申请人 :
苏州特斯捷电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市苏州工业园区春辉路5号跨春工业坊9F1楼南
代理机构 :
苏州彰尚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹恒涛
优先权 :
CN202123114805.3
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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