X射线分析仪及散热装置
授权
摘要
本申请涉及一种X射线分析仪及散热装置，适用于具有X射线衍射腔的X射线分析仪使用，其包括进气管、中间管、散热体、出气管及风扇。散热体设有散热通道，散热通道设有进气管连通的进气口及与中间管连通的出气口。风扇设置在中间管与出气管之间。本申请散热装置与X射线分析仪的X射线衍射腔之间形成密闭的循环的散热路径，既可以有效地对X射线分析仪进行散热降温；又能保证X射线不会泄漏，外部灰尘不会进入。
基本信息
专利标题 ：
X射线分析仪及散热装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121773521.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-22
授权号 ：
CN216247745U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
滕云周红苏明跃谭志勇
申请人 ：
北京安科慧生科技有限公司
申请人地址 ：
北京市通州区环科中路2号院21号楼1层
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202121773521.2
主分类号 ：
G01N23/207
IPC分类号 ：
G01N23/207 G01N23/20008 H05K7/20
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/207
衍射，例如，利用处于中心位置的探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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